现有產品名稱：金相顯微鏡
现有產品型號： BX51M-IR
现有產品廠商：OLYMPUS
簡單介紹：
BX51IR顯微鏡可對裸眼不可見的區域進行無損的檢查和分析，以及近紅外觀察特化的顯微鏡。能對半導體晶片內部和集成電路組件背面進行無損的CPS bumps觀察。
金相顯微鏡的詳細介紹：
奧林巴斯科研級正置系統顯微鏡 BX51/BX51M-IR
1、近紅外外透射反射觀察用顯微鏡
2、5X到10X紅外鏡頭,像差校正本涵盖從可見光到近紅外整個波段
3、晶圓，化合物半導體的內部，封裝芯片內部以及CSP bump觀察適宜
主要特點：
1、UIS無限遠校正光學系統，提供出色的圖像質量
2、人機工程學的進一步改善，使操作更爲舒適
3、多種高度功能化的附件，能滿足各種檢驗需要
24小時服務熱線
138-6239-9796
