X射線荧光光譜儀EDX-720X射線荧光光譜儀EDX-720 迅速測定ppm級的有害金屬！ 應對WEEE & RoHS、ELV等有害物質相關法規。 應對ASTM F963,EU_EN71美國和歐盟的玩具法規和指令，保證现有產品和用料的綠色環保。 X射線荧光光譜儀EDX-720是使用Ｘ射線照射樣品，對產生的荧光Ｘ射線的能量進行檢測，測定構成樣品的元素種類及含量的裝置。可無損地進行固體、粉體、液…[Detailed] |
X射線荧光分析儀EDX-GPX射線荧光分析儀EDX-GP是最適合用于RoHS/ELV/無鹵素法規限制的有害元素篩選分析的X射線荧X射線荧光分析裝置EDX-GP光分析裝置。 第一次使用EDX-GP，也能輕松操作，操作簡便且以更高的精度進行微量分析，達到最高靈敏度與最佳分辨率的完美結合。EDX-GP標准配置RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要功能，用戶無需購買特殊選購件，…[Detailed] |
X射線荧光分析儀EDX-LEEDX-LE是一款專用于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線荧光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（Si-PIN檢測器）檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析爲目標。 根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可在1分鍾內完成，所以完全可以應對RoH…[Detailed] |
島津X荧光分析儀 EDX-LE Plus 能量色散型X射線荧光分析儀 EDX-LE Plus是一款專用于RoHS/ELV/法規限制的有害元素篩選分析的X射線荧光分析裝置。 配備無需液氮型電子制冷（高分辨率SDD）檢測器，因此在實現降低運作成本和更易維護的同時，以維持高可信性分析和進一步提高操作性達到自動化分析爲目標。 根據不同樣品從開始測試到得到結果所需測試時間基本上可…[Detailed] |
微焦X-Ray線透視裝置SMX-160GT[1μm焦點] 可直接觀察IC盤上的BGA，能夠用高放大倍數從所有角度位置觀察、解析。 利用NC技術提供旋轉傾斜（跟蹤）功能/自動定位功能/標記功能（選件），放大倍率可達2700倍，高分辨率透視，能夠進行尺寸測BGA透視圖像 SMX-160GT的傾斜圖像不是讓樣品傾斜，而是驅動影像增強器可傾斜到60°角進行拍攝，得到具有立體感的透視圖像。[Detailed] |
微焦X射線透視檢查裝置SMX-2000島津SMX-2000采用了高速載物台、配置了外觀圖像決定位置功能、只點擊一下鼠標就能完成所有必要設定的跟蹤功能等，能夠更加迅速地移動樣品和變換觀察角度，實現透視檢查。SMX-2000尤其適合BGA焊球缺陷、觀察焊線鍵和狀態等實裝板的檢查。
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微焦X-Ray射線透視檢查裝置SMX-1000/1000L现有產品信息 操作簡便、功能強大的緊湊型X射線檢查裝置，選擇增加VCT組件後，立刻成爲CT設備！ SMX-1000/SMX-1000L采用FPD（數字式平板檢出器）和密閉式微焦點X射線管球，可以得到沒有變形和重影的清晰的透視圖像。設備上的CCD相機可拍攝樣品實物圖片，從而實現導航功能、步進功能、教學功能、圖像數據功能以及各種測量功能。
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微焦點X-Ray射線透視檢查裝置島津SMX-800分辨率可達10微米，SMX-800可用來確認BGA芯片的各種貼裝不良情況，如短路、錫球變形、虛焊等；還可確認各種樣品內部的狀態，如連接器電源、微動開關、SD卡、焊線、LED指示燈、晶振、引線接合、電容器、锂離子電池、手機用小型馬達、光電耦合器，鑄造现有產品等。[Detailed] |
X-Ray無損檢測儀Xspection 6000是一款采用平板探測器和大發射角的微焦斑X光管組合的高性能、高性價比的閉管X光機，它支持360度旋轉，最大傾斜角度70度，可以升級爲工業CT，是SMT(BGA)，航空航天，半導體等现有產品無損檢測的最佳现有產品。
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