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昆山華乃爾精密儀器有限公司

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terminals sectional analyzer color recognition system H-CAM1 automated detection image measuring laser plane detection

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Position：Homepage|光學膜厚測試儀

film膜厚測試儀

本film膜厚測試儀應用在透明及半透明材料的厚度或塗層的測量，包括半導體镀膜,光刻膠，玻璃減反膜測量，藍寶石镀膜,ITO玻璃，太陽能镀膜玻璃，各種襯底上的膜厚，膜的顔色測量，卷對卷柔性塗布，其他需要測量膜厚的場合等，無論有無底材或者底材是何種材料均無影響。應用在精密半導體wafer,ITO玻璃，fpc或pcb膜厚，材料表面光學镀…[Detailed]

在線film膜厚測試儀

本film膜厚測試儀應用在透明及半透明材料的厚度或塗層的測量，包括半導體镀膜,光刻膠，玻璃減反膜測量，藍寶石镀膜,ITO玻璃，太陽能镀膜玻璃，各種襯底上的膜厚，膜的顔色測量，卷對卷柔性塗布，其他需要測量膜厚的場合等，無論有無底材或者底材是何種材料均無影響。應用在精密半導體wafer,ITO玻璃，fpc或pcb膜厚，材料表面光學镀…[Detailed]

離線寬廣譜反射膜厚多功能測量儀

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Product：terminal analyzer sectional plane of the laser detector Auto parts cleanliness testing instrument automatic three-dimensional image measuring instrument NVC432 three dimensional full automatic image measuring instrument NVC322 automatic three-dimensional image measuring instrument NVC1500 a key measure manual image measuring instrument color recognition system H-CAM1

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