CTNV-2000系列，是采用封閉式X射線源的高性能成像系統，射線源免維持，樣品腔室可以容納大尺寸的樣品，具備拓展原位加載裝置的能力，可以選配物鏡耦合探測器達成大工作距離下的高分辨成像。
特點與優勢
● 閉管射線源，無需耗材，維持簡單
● 腔體尺寸較大，具備較強的擴展能力
● 0.5μm高空間分辨率
● 多種掃描模式：螺旋、偏置、有限角等
技藝指標
分辨率
像素細節分辨能力 | 1μm(平板探測器) / 50nm(物鏡耦合探測器) |
空間分辨率* | 3μm(平板探測器) / 500nm(物鏡耦合探測器) |
X射線源
類型 | 閉管 |
最高電壓 | 150KV |
平板探測器
成像面積 | 244mm×195mm |
像素矩陣 | 1920×1536 |
物鏡耦合探測器
鏡頭 | 4X、10X、20X |
樣品
可檢測樣品尺寸 | 400mm×300mm(直徑×高度) |
樣品承重 | 15kg |
設備物理參數
設備尺寸 | 1620mm×1100mm×1700mm(長×寬×高) |
設備重量 | 2400kg |
*空間分辨率可用空間分辨率測試卡進行測試驗證
▲ 技藝參數為參考指標，另外規格型號，恭迎來電咨詢
