簡單展現
BX51IR顯微鏡可對裸眼不可見的區域進行無損的檢查和分析，以及近紅外觀察特化的顯微鏡。能對半導體晶片內部和集成電路組件背面進行無損的CPS bumps觀察。
金相顯微鏡的詳細展現
奧林巴斯科研級正置系統顯微鏡 BX51/BX51M-IR
● 近紅外外透射反射觀察用顯微鏡
● 5X到10X紅外鏡頭,像差校正本涵盖從可見光到近紅外整個波段
● 晶圓，化合物半導體的內部，封裝芯片內部以及CSP bump觀察適宜
主要特點：
１、UIS無限遠校正光學系統，供應出色的圖像品質
２、人機工程學的進一步改善，使操作更為舒適
３、多種高度性能化的附件，能滿足各種檢驗需要
BX51M-IR主要技藝規格
BX51M-IR和BX51 這兩款顯微鏡鏡體相同，帶有同樣的反射照明裝置，可對半導體內部實行近紅外觀察，同樣可對封裝芯片內部和CSPbump進行觀測。
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