簡單展現:X射線荧光分析儀EDX-GP是最適合用於RoHS/ELV/無鹵素法規限製的有害元素篩選分析的X射線荧X射線荧光分析裝置EDX-GP光分析裝置。 　　第一次使用EDX-GP，也能輕松操作，操作簡便且以更高的精度進行微量分析，達到最高靈敏度與最佳分辨率的完美結合。EDX-GP標準配置RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要性能，用戶無需購買特殊選購件，使可以獲得最佳RoHS/ELV/無

X射線荧光分析儀EDX-GP的詳細展現

EDX-GP是最適合用於RoHS/ELV/無鹵素法規限製的有害元素篩選分析的X射線荧光分析裝置。 
第一次使用，也能輕松操作，操作簡便且以更高的精度進行微量分析，達到最高靈敏度與最佳分辨率的完美合。

標準配置RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要性能，用戶無需購買特殊選購件，使可以獲得最佳RoHS/ELV/無鹵素分析系統.

測試步驟：
操作簡便，一個指令即可開始全自動測定。 
測定條件的選擇過去一直依賴操作者的判斷，現在改由裝置自動判斷，即使初學者也可簡便·高精度地測定。
 
1st Step
放置樣品
●將樣品放在分析位置，利用樣品圖像觀察裝置確認分析位置。
●選擇分析區域。
●關閉樣品室。

2nd Step
選擇分析條件／輸入樣品名稱
●一個畫面中可以同時顯示樣品圖像、選擇分析條件、輸入樣品名稱。
●點擊開始。

3rd Step
顯示分析結果
●測定結束後，畫面上將清楚顯示5種元素的［合格判定］、［含量］、［3σ（測定偏差）］。
●點擊即可顯示［結果列表］或［創建報告書］。
只需1次點擊，便可根據預先登錄的分析條件， 
自動執行從測定到結果的一系列操作。
■ 校準曲線自動選擇性能
不含有害元素時，測定過程中能夠判定結果時，即自動終止測定，縮短分析時間。
■ 省時性能
不含有害元素時
不含有害元素時，測定過程中能夠判定結果時，即自動終止測定，縮短分析時間。
■ 適用省時性能的縮短時間示例
含量低於檢出下限值時，判斷不含有，測定自動結束。上述樣品中Pb、Cd的含量均低於檢出下限，與設定的200秒（=100秒＋100秒）分析時間相比，僅用了50秒（=25秒＋25秒）即結束分析，大幅度節約了時間。
有害元素含量高時
由設定的目標管理精度自動決定測定時間。 
在測定精度達到管理值時結束測定。
■ 適用省時性能的縮短時間示例


測定高濃度元素時，在比設定的測定時間更短的時間內即可獲得高強度，而且誤差變小，由此可以大幅縮短時間。上述樣品中Pb：7600ppm、Cd：52ppm,設定的分析時間為200秒（=100秒＋100秒），實際僅用了40秒（=15秒＋25秒）即結束分析，大幅度節約了時間。
EDX-GP標準配備了RoHS/ELV/無鹵素分析所需的所有必要性能，用戶無需購買特殊選購件，就可以獲得最佳RoHS/ELV/無鹵素分析系統。
標準配置改變照射直徑的準直器＆樣品圖像觀察組件
測定異物或者測定包含多個部位的樣品時，通過樣品圖像觀察組件在觀察樣品的同時，可以簡單的設定分析位置。測定小樣品或樣品中特定位置時，可以使用準直器，更改X射線照射區域。
（1, 3, 5, 10 ｍｍφ）


10mmφ圖像（塑膠）
3mmφ（金屬）
 
形狀校正性能
即使含量相同的樣品，在形狀和厚度不同時，X射線強度將發生變化，得到的定量值也會受到影響，EDX-GP通過使用BG內標法*，可以排除形狀和厚度的影響，取得高精度結果。 
※BG內標法 
通過散射X射線強度使各元素的X射線荧光強度標準化的一種校正方法。
測定結果列表管理
創建列表性能
已保存數據可以用Excel形式列表顯示
超大樣品室可以對應各種樣品形態及大小。
采用超大樣品室：最大可以放置370mm長×320mm寬×155mm高的大型樣品，令緊湊型機身望塵莫及。